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微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

簡要描述：微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470結合了電化學阻抗EIS技術和微區掃描技術，可以的測試局部微區的阻抗以及相應參數。

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  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2023-12-28
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微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

應用:

* 薄膜阻抗復雜成像

* 池生長介質直接成像

* 光點化合反應特征化

* 電池

* 傳感器

* 金屬以及合金的鈍化

* 燃料池

* 腐蝕

 

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